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ZX-3/5/5DL超聲波測厚儀

產品時間:2024-07-04

簡要描述:

美國達高特DAKOTA ZX-3超聲波測厚儀/ZX-35超聲波測厚儀/ZX-5DL超聲波測厚儀/材料聲速儀,采用超聲反射技術可以用單面測量法快速、準確地測量物體的壁厚,比傳統的游標卡尺等壁厚測量方式更快捷方便,適用范圍也更廣。ZX-3/5/5DL超聲波測厚儀

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     ZX-3/5/5DL超聲波測厚儀

 

  • 測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度

  • 120MHz FPGA采樣率,150V方波脈沖發生器

  • 增益可調節(40-52dB)

  • 增益步進間距3dB(vlow, low, med, high, vhi 五檔)

  • 手動或自動調零

  • 低溫型(-30℃)LCD顯示屏

  • USB-C型通訊接口:輸出數據到計算機(僅ZX-5/5DL)

  • USB轉串口功能,可選RS232或藍牙模塊(僅ZX-5)

  • IP65防護等級

  • 掃查測量:自動找出被測材料掃查區域內的薄值

 

ZX-3/5/5DL超聲波測厚儀

型號

頻率

晶片直徑

測量范圍(鋼)

說明

PT-102-2000

5.0MHz

φ6.3mm

1.0~152mm

標準探頭

PT-101-2000

5.0MHz

φ4.7mm

1.5~50mm

小管徑探頭

PT-104-0000

1.0MHz

φ12.7mm

3.8~50.8mm(鑄鐵中)

鑄鐵探頭

PT-102-1000

2.25MHz

φ6.3mm

1.5~100mm

低頻探頭

PT-102-3300

7.5MHz

φ6.3mm

0.63~152mm

超薄探頭

PT-104-2000

5.0MHz

φ12.7mm

1.27~500mm

超厚探頭

PT-042-2000

5.0MHz

φ6.3mm

1.0~152mm

高溫探頭,高℃

PT-044-2000

5.0MHz

φ12.7mm

1.27~500mm

高溫探頭,高340℃

PT-212-2001

5.0MHz

φ6.3mm

1.0~150mm

高溫探頭,高482℃

PT-214-2001

5.0MHz

φ12.7.3mm

1.27~500mm

高溫探頭,高482℃

注:用高溫探頭測量高溫表面時必需用配套的高溫耦合劑。

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